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行業(yè)產(chǎn)品

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無錫天之瑞科技有限公司


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XDL / XDLM / XDAL

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地無錫市

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更新時間:2023-06-19 12:11:21瀏覽次數(shù):187次

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經(jīng)營模式:其他

商鋪產(chǎn)品:38條

所在地區(qū):

聯(lián)系人:張先生

產(chǎn)品簡介

憑借電機驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL®系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試

詳細介紹

憑借電機驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇Z適合的 X 射線儀器。


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特性:

X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務(wù)

由于測量距離可以調(diào)節(jié)(大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試

半導(dǎo)體測量,使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設(shè)備)

應(yīng)用:

鍍層厚度測量

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量


材料分析

電鍍槽液分析

電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析



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