相控陣成像技術(shù)已由基本的扇掃發(fā)展成為真實(shí)幾何結(jié)構(gòu)位置仿真工藝成像，將信號(hào)多次波疊加覆蓋檢測(cè)區(qū)域的三維、3D仿真工藝成像，通過儀器內(nèi)置的30多種專業(yè)的實(shí)時(shí)檢測(cè)應(yīng)用軟件快速實(shí)現(xiàn)，檢測(cè)技術(shù)人員可根據(jù)檢測(cè)對(duì)象選擇不同的工藝軟件，輸入幾何結(jié)構(gòu)信息，即可實(shí)時(shí)生成被檢工件的工藝模擬圖，確保聲束的99%覆蓋與耦合狀態(tài)，檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)生成數(shù)據(jù)列表及相控陣成像技術(shù)已由基本的扇掃發(fā)展成為真實(shí)幾何結(jié)構(gòu)位置仿真工藝成像，將信號(hào)多次波疊加覆蓋檢測(cè)區(qū)域的三維、3D仿真工藝成像，通過儀器內(nèi)置的30多種專業(yè)的實(shí)時(shí)檢測(cè)應(yīng)用軟件快速實(shí)現(xiàn)，檢測(cè)技術(shù)人員可根據(jù)檢測(cè)對(duì)象選擇不同的工藝軟件，輸入幾何結(jié)構(gòu)信息，即可實(shí)時(shí)生成被檢工件的工藝模擬圖，確保聲束的99%覆蓋與耦合狀態(tài)，檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)生成數(shù)據(jù)列表及三維3D檢測(cè)報(bào)告。三維3D檢測(cè)報(bào)告。

符合標(biāo)準(zhǔn)

本設(shè)備符合以下標(biāo)準(zhǔn)：

美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) 2541 –手動(dòng)相控陣超聲檢驗(yàn)的使用

美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) 2557 –第 4 章手動(dòng) S-掃查相控陣超聲檢驗(yàn)的使用 美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) 2558 –第 4 章手動(dòng) E-掃查相控陣超聲檢驗(yàn)的使用

美國材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì) ASTM 1961– 06 –使用帶聚焦檢測(cè)裝置的帶狀識(shí)別機(jī)械化超聲檢驗(yàn)環(huán)型焊縫的標(biāo)

準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范

美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) Section I –鍋爐及壓力容器規(guī)范第Ⅰ卷 動(dòng)力鍋爐建造規(guī)范

美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) Section VIII, Division 1 –ASME 鍋爐及壓力容器規(guī)范第Ⅷ卷 1 壓力容器建造規(guī)則 美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) Section VIII, Division 2 –ASME 鍋爐及壓力容器規(guī)范第Ⅷ卷 2 壓力容器另一規(guī)則

美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) Section VIII Article KE-3 – 焊縫檢測(cè)及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)

美國 ASME 標(biāo)準(zhǔn) 2235 Rev 9 –以超聲波檢測(cè)代替射線檢測(cè) 歐洲標(biāo)準(zhǔn) 1714:1998 –焊縫無損檢驗(yàn) 焊縫超聲檢驗(yàn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn) 1713:1998 –焊縫無損檢驗(yàn) 超聲檢驗(yàn) 焊縫的跡象表征

英國標(biāo)準(zhǔn) 7706:1993 –用于缺陷探測(cè)、定位和定量的超聲時(shí)間渡越衍射(TOFD)法的校驗(yàn)和調(diào)整指南 歐洲標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì) CEN/TC 121/SC 5/WG 2 N 146 –TOFD 技術(shù)用于焊縫檢測(cè)

美國材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì) ASTM E 2373 – 04 –超聲時(shí)差衍射技術(shù)(TOFD)標(biāo)準(zhǔn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn) 583-5:2001 –無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 不連續(xù)性的特性與尺寸 歐洲標(biāo)準(zhǔn) 583-2:2001 –無損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 靈敏度和范圍設(shè)定

德國 Appendix 1 to AD-Merkblatt HP5/3 標(biāo)準(zhǔn) — 壓力容器及焊縫的無損檢測(cè)方法要求

產(chǎn)品特點(diǎn)

多達(dá)256個(gè)通道供相控陣探頭使用

多達(dá)32個(gè)通道供傳統(tǒng)超聲波探傷與TOFD檢查使用

并行A/D轉(zhuǎn)換和時(shí)時(shí)數(shù)字相位與相控陣信號(hào)

可對(duì)256個(gè)收發(fā)單元進(jìn)行獨(dú)立設(shè)置

可通過以太網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制

模擬各單元的聲束軌跡、位置及其圖形顯示

可以實(shí)時(shí)的條形圖顯示完整的原始A超信號(hào)

具備符合IP67標(biāo)準(zhǔn)的旅行箱供掃描器或爬行器使用

不必使用大量的探頭連線

可配備坐標(biāo)編碼器

發(fā)電機(jī)及控制接口

技術(shù)參數(shù)

一般數(shù)據(jù)

計(jì)算機(jī)CPU： AMD LX 800 - 500MHZ

內(nèi)存： 512M

閃存： 4G

接口： 以太網(wǎng)

操作系統(tǒng)： 內(nèi)置Windows™XP

外殼： IP 67 堅(jiān)固的鋁盒可安裝在掃描器或牽引器上

編碼器接口： 增加了TTL編碼器

電機(jī)控制輸出： DC電源/RS 232 控制-步進(jìn)電機(jī)

各類探頭單通道脈沖接收器

脈沖類型： 雙極矩形波

上升時(shí)間/下降時(shí)間： ≤7.5 ns (上邊緣10-90% /下邊緣90-10%)

脈沖振幅: 可調(diào)整(12 個(gè)級(jí)別) 50V..300 V 震蕩總振幅在50 Ω之內(nèi)

半波脈沖期間： 10..00 ns 微調(diào)步進(jìn)為10ns

探頭模式(只為常規(guī)脈沖回波和多通道TOFD檢測(cè)): 單晶/雙晶

脈沖重復(fù)頻率： 10... 5000 赫茲可調(diào)控分辨率為1赫茲

增益： 0... 110 dB 可調(diào)控分辨率為0.5 dB

的低噪聲設(shè)計(jì)： 85 μV震蕩總振幅涉及到80 dB增益/25MHz帶寬

頻帶： 0.2..25MHz帶寬

相控陣探頭發(fā)射信號(hào)

相位： 0..00 μs可調(diào)控分辨率為5ns

發(fā)射孔徑： 1..4 / 128 / 256 -根據(jù)通道的總數(shù)設(shè)置相控陣探頭

A/D 轉(zhuǎn)換和DSP

A/D 轉(zhuǎn)換： 并行100 MHz 16 bit

相位： 時(shí)時(shí) 0..00 dB 可調(diào)控分辨率為5ns

疊加后的相控陣信號(hào)： 時(shí)時(shí)

接收孔徑： 1..4 / 128 / 256 -根據(jù)通道的總數(shù)設(shè)置相控陣探頭

數(shù)字式過濾器： 32 輕拍冷杉帶通行證以可控制的更低和上部頻率極限

(為被逐步采集的列陣和常規(guī)脈沖回波和TOFD通道)