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當(dāng)前位置:上海尤譜光電科技有限公司>>激光粒度儀>> 納米粒度儀SZ-100
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產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2022-08-26 09:00:50瀏覽次數(shù):307次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 包裝印刷網(wǎng)SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具,如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè),分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測(cè)定;還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。
主要特點(diǎn)
· 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)
· 寬檢測(cè)范圍,寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%
· 自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定
· 軟件操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大,一鍵測(cè)量
· 雙光路雙角度粒徑測(cè)量(90° 和173°)
· 采用微量樣品池
規(guī)格參數(shù)
· 粒徑測(cè)量原理:動(dòng)態(tài)光散射法(光子相關(guān)光譜法)
· 粒徑測(cè)定范圍:0.3nm ~10μm
· 粒徑測(cè)量精度:±2%(NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm)
· Zeta 電位測(cè)量原理:激光多普勒電泳法
· Zeta 電位測(cè)量范圍:-500 mV ~ +500 mV
· 分子量測(cè)量原理:Debye plot
· 分子量測(cè)量范圍:1000 ~ 2×107 Da
· 測(cè)量角度:90° 和173°(可自動(dòng)或手動(dòng)選擇)
· 樣品量:12μL ~ 1000μL
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